tuzsutТруды учебных заведений связиProceedings of Telecommunication Universities1813-324X2712-8830СПбГУТtuzsut-342Research ArticleСтатьиАНАЛИЗ НЕИСПРАВНОСТЕЙ В СЕТЯХ PON. ТЕОРИЯ И ПРАКТИКАANALYSIS OF TROUBLESHOOTING IN PON. THEORY AND PRACTICEАстаховА. В.AstakhovA.

Астахов Александр Владимирович - кандидат технических наук, доцент кафедры фотоники и линий связи Санкт-Петербургского государственного университета телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича

alastakhov707@gmail.comСумкинВ. Р.SumkinV.

Сумкин Владимир Радомирович - старший преподаватель кафедры фотоники и линий связи Санкт-Петербургского государственного университета телекоммуникаций им. проф.М.А. Бонч-Бруевича

sumkinv@mail.ruСанкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-БруевичаРоссия201612042022211822Copyright © Астахов А.В., Сумкин В.Р., 20222022Астахов А.В., Сумкин В.Р.Astakhov A., Sumkin V.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://tuzs.sut.ru/jour/article/view/342

Практика поиска и устранения неисправностей при монтаже сетей PON показала, что наличие избыточного количества изгибов оптического волокна приводит к большим потерям на длине волны 1490 нм, тогда как недостаточно плотная фиксация оптических разъёмов существенно сильнее сказывается на затухании излучения на длине 1310 нм. Дляобъяснения этой особенности был проведён теоретический анализ потерь на макроизгибах оптического волокна и потерь на продольном зазоре для различных длин волн, используемых в сетях PON.

As the practice of troubleshooting during the installation of PON shows, the presence of excess fiber bends causes the large losses at a wavelength of 1490 nm, whereas not enough tight fixationsof optical connectors greatly affects the attenuation at a wavelength of 1310 nm. Theoretical analysis of losses caused by optical fiber macrobends and losses at a longitudinal gap for different wavelengths used in PON was carried out to explain this feature.

пассивная оптическая сетьтестирование PONоптическое волокноспектральный диапазондлина волныоптическое излучениеpassive optical networkPON testingoptical fiberspectral rangewavelengthoptical radiationReferencesКауфман М., Сидман А. Практическое руководство по расчётам схем в электронике: справ. В 2 т. Т. 2.: пер. c англ. М.: Энергоатомиздат, 1993. 288 с.Кауфман М., Сидман А. Практическое руководство по расчётам схем в электронике: справ. В 2 т. Т. 2.: пер. c англ. М.: Энергоатомиздат, 1993. 288 с.Салех Б., Тейх М. Оптика и фотоника. Принципы и применения: пер. с англ. В 2 т. Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2012. Т. 1. 760 с.Салех Б., Тейх М. Оптика и фотоника. Принципы и применения: пер. с англ. В 2 т. Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2012. Т. 1. 760 с.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.